蔡司高分辨率工业CT系统METROTOM 6 scout(GOM CT)以精细的细节数字化复杂零件,包括内部几何形状。您将获得用于GD&T分析或名义实
蔡司高分辨率工业CT系统METROTOM 6 scout(GOM CT)以精细的细节数字化复杂零件,包括内部几何形状。您将获得用于GD&T分析或名义实际比较的完整3D图像。计量工业CT擅长数字化小型塑料零件。
主要优势:
得益于3k X射线探测器(3008 x 2512像素),分辨率高
通过测量室的数学建模实现高精度
通过5轴运动学自动定位对象并在软件中进行实时取景
多合一软件,可实现一致,快速的工作流程
揭示其他系统所隐藏的内容解析度
在对零件进行数字化处理时,蔡司高分辨率工业CT系统METROTOM 6 scout(GOM CT)具有出色的细节清晰度:一方面是因为它使用高分辨率3k X射线探测器来获取测量数据,另一方面是因为每个零件在可能的*佳测量位置进行测量,因此始终以尽可能高的分辨率进行测量。您可以在下面看到结果:左边是使用蔡司工业CT系统ETROTOM 6 scout(GOM CT)生成的测量数据,右边是通常的标准。
保证高精度
为了生成精确的3D测量数据,蔡司METROTOM 6 scout(GOM CT)应用了数学智能:它在整个测量过程中将互连的算法与测量室的数字建模相结合。此外,该系统还具有与执行测量相关的所有组件的机械稳定性。底线:基于测量结果,您可以以一种真正可靠,高度精确的方式评估零件的质量,并进行进一步的分析。
多合一软件
设备的控制和数据的计量评估结合在一个软件包中,从而使其他软件或中间步骤变得多余。从原始数据的记录到检查,再到测量报告的创建,整个过程链都得到了很大的简化。
使用GOM体积检查进行综合评估
Gom Volume Inspect允许以3D形式进行完整的工业CT数据分析,以评估零件质量并优化制造过程。单独的截面图像使您可以逐层查看体积,甚至可以看到很小的细节和缺陷。可以详细分析检测到的缺陷,并根据各种标准自动评估。此外,您可以将几个组件的体积数据加载到项目中,执行趋势分析,并将分析结果与CAD数据进行比较。所有测量结果均记录在案,并最终合并为结构合理的报告。直观的操作和高性能:工业CT数据分析从未如此简单!
X射线源 |
225 kV |
X射线探测器 |
分辨率:3008 x 2512像素 |
测量面积 |
d:240毫米h:400毫米 |
体素大小 |
2 μm-80 μm |
尺寸 |
高2210毫米宽 |
重量 |
4800公斤 |
应用领域 |
首件检查,工具校正,持续生产中的检查 |
检查功能 |
内部结构,壁厚,材料缺陷,气孔和缩孔 |
测量任务 |
GD&T分析,名义-实际比较,组装分析 |