蔡司扫描电镜(SEM)+能谱仪(EDS)应用及测试需求

 　　▶蔡司扫描电镜(SEM)+能谱仪(EDS)应用：

　　广泛用于生物学、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、地质矿物、商品检验、产品生产质量控制、宝石鉴定、考古和文物鉴定及公安刑侦物证分析。可以观察和检测非均相有机材料、无机材料及在上述微米、纳米级样品的表面特征。具体如下：

　　1.微观形貌观察及尺寸测量

　　如断口显微形貌观察，电子产品内部结构观察，表面形貌观察，镀层厚度测量，锡须长度测量等。

　　2.材料微观结构观察

　　如金属材料的晶粒及晶界分析，铸铁材料石墨形态分析，钢铁材料的金相观察，纳米材料分析等。

　　3.微区成分分析

　　利用电子束与物质作用时产生的特征X射线，表征材料元素方面的信息，可定性、半定量B-U的元素。

　　4.定位测试点

　　如在失效分析中可以用来定位失效点，在异物分析中可以用来定位异物点。

　　▶扫描电镜(SEM)+能谱仪(EDS)测试需求

　　01有不良来料时

　　需要对样品进行形貌观察和表面元素分析，确认不良类型。

　　02有不同批次来料时

　　可以用EDS对新物料和原物料进行元素比对分析，确认新物料是否可投入生产。

　　03产品测试接触不良时

　　可以用EDS对接触不良位置进行扫描观察和元素分析，确认是否是由于异物或者表面磨损造成的不良。

　　04产品在生产或使用过程有异常时

　　产品在生产或使用过程中造成了金属物件断裂时，可用SEM对断裂位置进行显微形貌观察，以及用EDS对断口位置进行表面元素分析，确认断裂的原因。

　　05需对样品拍照和显微尺寸测量时

　　当要对微小样品进行拍照和显微尺寸测量时，可用SEM进行测量(SEM的测量范围可精确至几十纳米)。

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