蔡司三坐标提升技能必看—AUKOM一级/二级课程培训

 　　蔡司三坐标AUKOM 一级课程通过系统的分析测量误差，即工件、环境、测量机、操作人员、测量策略，五个方面分析误差因子，保证策量结果的准确性。

　　AUKOM 二级课程是在AUKOM 一级的基础上，更深入的展开讲解人机料法环对测量结果准确性的影响。

　　AUKOM 一级/二级课程学习目的

　　通过AUKOM理论的系统学习，可以提高CMM操作人员对测量结果的更加自信的把控，可以为工艺改进提供准确的分析和原因查找，可以防止误判错判造成的成本浪费，帮助公司提高生产效率，提高利润率。

　　精密检测环境要求

　　环境对测量结果的影响是非常严重的，环境是满足测量的最基本的要求。CMM在安装之前对温度、湿度、震动都有明确的要求，以保证设备精度稳定。精度等级越高的设备，对安装的环境要求也会越高。CMM和工件都会受到检测环境的影响。

　　蔡司三坐标测量策略的制定

　　阅读和理解图纸，确定测量任务，编写检测计划书。

　　确定工件放置姿态以及在机器上的放置位置。

　　选择传感器，确定合适的测量模式。

　　确定基准，选择坐标系的建立方式。

　　使用元素列表确定恰当的要素及关联要素。

　　确定评定策略。

　　确定探测策略(测点数量及分布)。

　　确定传感器参数(光照、放大倍率、测力、扫描速度等)。

　　选择合适的附件。

　　基准对测量的影响

　　设计基准的合理定义，会直接影响加工成本的增加，同时也会造成检测数据的不稳定。基准测量的好坏会直接影响到测量结果的质量。下面的例子说明了较长的被测要素和短基准之间产生的问题，由于杠杆效应，短基准上的形状偏差对被测要素的位置和方向测量产生的影响是不稳定的。

　　测点的数量和分布

　　测量点应能更后的表达被测表面的形状。测点的数量越多越好，但无数个点也是不现实的，根据被测要素的输出特性，选取合理的点数，均匀分布在整个被测元素表面。既满足特性评价，也满足数据的稳定性。

　　下图是三叶形的圆，当测点数目不足时，测得圆的直径和位置会不稳定。

　　图像处理

　　影像测量可以用轮廓滤波减少污染和毛边的影响。

　　异常值滤波用理想几何要素信息作为异常值计算的基础，异常值滤波也会滤波轮廓的形状。

　　计算机断层摄影原理

　　X射线管发出的锥形光束穿透工件，工件在扫描期间旋转，记录下许多二维射线图像。例如，一台二维X射线检测器记录下400、800、或1600张在各种旋转位置的射线图像，并保存用于进一步处理。通过数学算法，利用总的2D射线图像重构被测物体的记录体积。

　　自由曲面测量

　　空间点测量，空间点的方向与表面法向相反。

　　测针半径的方向与表面法向相反。

　　通常会评价法向方向上的三维距离。

　　评价过程包括

　　检测结果的合理性

　　验证评价方法

　　考虑拟合方法

　　考虑滤波

　　考虑异常值

　　创建必要的构造

　　结构对蔡司三坐标精度的影响

　　设备制造商无论多么努力，所有测量机都有自身结构造成的固有测量不确定度。

　　CMM的精度会受下列因素的影响

　　导轨、轴承和驱动

　　光栅尺

　　传感器和附件

　　工件装夹

　　当一个程序要被用于生产测量时，每次测量时都使工件位于相同的位置以防止碰撞是非常重要的。这可以用夹具来实现。必须记录下列信息：

　　夹具(识别)

　　工件在夹具中的定位

　　工件上的定位点

　　夹具在测量范围中的位置

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